Um novo modelo de caracterização de histerese para transistores de efeito de campo de MoS2 dependente de gás
Nesta investigação foi desenvolvido um modelo matemático novo e completamente original, o qual é capaz de caracterizar a histerese em transistores MOSFET (Metal-Oxide Semiconductor Field effect transistor) de Dissulfeto de molibdênio (MoS2), permitindo predizer deste modo, o comportamento futuro do dispositivo.
Sobre a histerese, a mesma é um fenômeno presente em diversos campos da ciência e da engenharia. O estudo deste fenômeno desempenha um importante papel na pesquisa e no desenvolvimento tecnológico, por meio da compreensão da fenomenologia de determinados dispositivos. A faceta negativa é que a histerese pode reduzir a mobilidade dos portadores, prejudicando significativamente o desempenho do transistor. Pelo lado positivo a histerese pode ser utilizada de maneira conveniente na construção, por exemplo de memórias. Também, por meio de uma revisão bibliográfica, foi possível verificar que até o presente momento não existe na literatura científica nenhum modelo que caracterize a histerese em transistores FET (Field effect transistor) de Dissulfeto de molibdênio (MoS2). Assim, esta nova modelagem é pioneira na descrição do fenômeno histerético em transistores FET (Field effect transistor) de (MoS2).