Banca de DEFESA: LUIZ FERNANDO MAFRA MENDES FREITAS SANTOS

Uma banca de DEFESA de MESTRADO foi cadastrada pelo programa.
DISCENTE : LUIZ FERNANDO MAFRA MENDES FREITAS SANTOS
DATA : 18/10/2024
HORA: 14:00
LOCAL: https://conferenciaweb.rnp.br/sala/katia-42sim
TÍTULO:

CRESCIMENTO DO FILME DE ÓXIDO DE ALUMÍNIO ATRAVÉS DA IRRADIAÇÃO DE RAIOS GAMA DE BAIXA DOSE

PÁGINAS: 80
RESUMO:

 

A resistência à corrosão do alumínio é bem conhecida e é atribuída à passivação, processo que ocorre quando a superfície do metal reage ao ambiente para formar espontaneamente um filme fino de óxido. Basicamente, o filme passivo do alumínio é composto por duas camadas, uma camada interna composta inteiramente por óxido de alumínio (Al₂O₃), e uma segunda camada formada em grande parte por hidróxido de alumínio (Al(OH)₃). Em condições normais de temperatura e pressão, essa camada leva muito tempo para crescer, algo em torno de várias semanas ou meses. No entanto, no presente trabalho, através do uso de irradiação de raios gama em baixas doses em um ambiente composto por ar e vapor d'água, foi possível, em poucos dias, aumentar a camada externa do filme passivo da amostra de alumínio. Utilizando um disco de Cs-137 como fonte de raios gama, três amostras de alumínio puro (99,9%) foram irradiadas durante 5, 8 e 14 dias, recebendo doses absorvidas de 0,94 mGy, 1,49 mGy e 2,85 mGy, respectivamente. As amostras foram caracterizadas pelas técnicas espectroscopia Raman, curvas de polarização, espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X (XPS) e Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV). A partir da espectroscopia Raman observou-se que a amostra irradiada durante 14 dias apresentou os maiores valores de intensidade e área de pico, indicando uma camada passiva mais espessa em relação às demais. Além disso, a partir dos resultados das curvas de polarização, observou-se que a irradiação de raios gama levou a uma melhora na qualidade do filme passivo (maior resistência), uma vez que a irradiação proporcionou uma menor densidade de corrente de passivação (i_pass). Já as análises de XPS permitiram observar  que a amostra irradiada apresentam aumento na porcentagem de hidróxido de alumínio em comparação com a amostra não irradiada. Por último, notou-se a partir das imagens da microscopia eletrônica de varredura quea exposição de poucos dias com a radiação gama de baixas doses proporcionou o acúmulo de materiais nas superfícies, levando dessa forma ao aumento da espessura e da resistência do filme passivo.

MEMBROS DA BANCA:
Presidente - Interno ao Programa - 1838179 - KATIA FRANKLIN ALBERTIN TORRES
Membro Titular - Examinador(a) Interno ao Programa - 1671298 - RENATO ALTOBELLI ANTUNES
Membro Titular - Examinador(a) Externo ao Programa - 1768304 - DENISE CRIADO PEREIRA DE SOUZA
Membro Suplente - Examinador(a) Interno ao Programa - 1997753 - LUIZ FERNANDO GRESPAN SETZ
Membro Suplente - Examinador(a) Externo ao Programa - 1802150 - MARCO ANTONIO BUENO FILHO