Banca de QUALIFICAÇÃO: LUIZ FERNANDO MAFRA MENDES FREITAS SANTOS

Uma banca de QUALIFICAÇÃO de MESTRADO foi cadastrada pelo programa.
DISCENTE : LUIZ FERNANDO MAFRA MENDES FREITAS SANTOS
DATA : 07/12/2022
HORA: 14:00
LOCAL: UFABC (Remoto)
TÍTULO:

CRESCIMENTO DO FILME DE ÓXIDO DE ALUMÍNIO ATRAVÉS DA IRRADIAÇÃO DE RAIOS GAMA DE BAIXA DOSE

PÁGINAS: 80
RESUMO:

A resistência à corrosão do alumínio é bem conhecida e é atribuída à passivação, processo que ocorre quando a superfície do metal reage ao ambiente para formar espontaneamente um filme de óxido fino. Basicamente, o filme de óxido de alumínio natural é composto por duas camadas, uma camada interna composta inteiramente por Al2O3, e uma segunda feita por Al(OH)3. Em condições normais de temperatura e pressão, o filme de Al(OH)3 leva muito tempo para crescer, algo em torno de várias semanas ou meses. No entanto, no presente trabalho, através do uso de irradiação de raios gama em baixas doses em um ambiente composto por ar e vapor d'água, foi possível, em poucos dias, aumentar a camada de Al(OH)3 em uma amostra de alumínio puro. Utilizando um disco de Cs-137 como fonte de raios gama, três amostras de alumínio foram irradiadas durante 14, 8 e 5 dias, recebendo doses absorvidas de 2,85 mGy, 1,49 mGy e 0,94 mGy, respectivamente. Comparando o espectro Raman das duas amostras irradiadas com outra amostra não irradiada, foi possível verificar que a amostra irradiada durante 14 dias apresentou os maiores valores de intensidade de pico e área de pico, indicando uma maior concentração de hidróxido de alumínio quando comparada a outras amostras. Além disso, as curvas de polarização das amostras foram obtidas para analisar a natureza do filme formado na superfície. A partir dos resultados, foi possível observar que a irradiação de raios gama levou a uma melhora na qualidade do filme passivo (maior resistência), uma vez que a irradiação resultou em menor densidade de corrente de passivação (ipass). Para confirmar a consistência das análises anteriores, mais duas amostras foram examinadas por espectroscopia de fotoelétrons de raios X (XPS), onde uma amostra irradiada durante cinco dias apresentou um aumento na porcentagem de hidróxido de alumínio (relacionado ao pico de XPS O 1s) em comparação com uma amostra não irradiada. Então, pode-se apontar que a irradiação, em baixa dose, induziu o crescimento da camada de hidróxido de alumínio do filme passivo e melhorou a resistência do filme em poucos dias. Além disso, os resultados mostram a utilidade da aplicação de baixas doses de irradiação ionizante para alterar as superfícies dos óxidos metálicos.

MEMBROS DA BANCA:
Presidente - Interno ao Programa - 1671298 - RENATO ALTOBELLI ANTUNES
Membro Titular - Examinador(a) Interno ao Programa - 1997753 - LUIZ FERNANDO GRESPAN SETZ
Membro Titular - Examinador(a) Externo ao Programa - 1768304 - DENISE CRIADO PEREIRA DE SOUZA
Membro Suplente - Examinador(a) Externo ao Programa - 1802150 - MARCO ANTONIO BUENO FILHO
Membro Suplente - Examinador(a) Externo ao Programa - 2297395 - FREDERICO AUGUSTO PIRES FERNANDES