SIGAA - Sistema Integrado de Gestão de Atividades Acadêmicas

Resumo do Componente Curricular

Dados Gerais do Componente Curricular

Tipo do Componente Curricular:

DISCIPLINA

Unidade Responsável:

PROGRAD-COORDENAÇÃO-GERAL DOS BACHARELADOS INTERDISCIPLINARES (11.01.05.22)

Código:

NHZ3042-15

Nome:

MICROSCOPIA ELETRÔNICA

Carga Horária Teórica:

24 h.

Carga Horária Prática:

24 h.

Carga Horária de Ead:

0 h.

Carga Horária Estudo Individual:

0 h.

Carga Horária Total:

48 h.

Pré-Requisitos:

Co-Requisitos:

Equivalências:

( NHZ3042-09 )

Excluir da Avaliação Institucional:

Não

Matriculável On-Line:

Sim

Horário Flexível da Turma:

Sim

Horário Flexível do Docente:

Sim

Obrigatoriedade de Nota Final:

Sim

Pode Criar Turma Sem Solicitação:

Não

Necessita de Orientador:

Não

Possui Subturmas:

Não

Exige Horário:

Sim

Quantidade de Avaliações:

Ementa/Descrição:

Noções de óptica eletrônica. Lentes magnéticas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET): fonte de elétrons; sistema de iluminação; sistema de formação da imagem; aberrações de lentes; poder de resolução e profundidade de campo e foco; formação do diagrama de difração e da imagem. Microscópio eletrônico de varredura (MEV): sistema óptico-eletrônico; interação feixe-amostra. Formação de imagens no microscópio eletrônico de transmissão. Microanálise: descrição do método; espectro característico de emissão de raios-X; espectroscopia por dispersão de energia (EDS) e por dispersão de comprimento de onda (WDS); microanálise por raios-X em MET e MEV; microanálise por perda de energia de elétrons (EELS). Aulas práticas de preparação de amostras e observações experimentais nos microscópios eletrônicos.

Referências:

1- HALL, C. E. Introduction to electron microscopy. 2 ed. New York: McGraw-Hill, 1966. 397 p. 2- REIMER, L. M. Transmission electron microscopy: physics of image formation and microanalysis. New York: Springer, 1984. 3- WELLS, O.C. Scanning electron microscopy. New York: McGraw Hill Book Co., 1974. 1- FULTZ, B.; HOWE, J. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. Berlin: Springer, 2008. 758 p. 2- HIRSCH, M.A.et al. Electron microscopy of thin crystals. London: Butterworths, 1985. 3- NEWBURRY, D. E. et al. Advanced scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis. 2 ed. New York: Plenum Press, 1987. 4- WILLIAMS, D. B.; CARTER, C. B. Trasmission electron microscopy: a textbook for materials science. New York; plenium, 1996. 729 p. 5- ZANETTE, Susana I., Introdução à Microscopia de Força Atômica São Paulo, SP : Livraria da Física : CBPF, c2010. 101 p.

Outros componentes que têm esse componente como equivalente
NHZ3042-09 - MICROSCOPIA ELETRÔNICA

Histórico de Equivalências
Expressão de Equivalência	Ativa	Início da Vigência	Fim da Vigência
( NHZ3042-09 )	ATIVO	01/06/2006

Currículos
Código	Ano.Período de Implementação	Matriz Curricular	Obrigatória	Ativo
BFIS 2015 - N	2016.2	FÍSICA - SANTO ANDRÉ - BACHARELADO - Presencial - M	Não	Sim
BFIS 2015 - A	2016.2	FÍSICA - SANTO ANDRÉ - BACHARELADO - Presencial - M	Não	Sim
BFIS 2015 - N	2016.2	FÍSICA - SANTO ANDRÉ - BACHARELADO - Presencial - N	Não	Sim
BCB 2023 - BCT 2022	2023.3	CIÊNCIAS BIOLÓGICAS - SANTO ANDRÉ - BACHARELADO - Presencial - M	Não	Sim
BCB 2023 - BCT 2022	2023.3	CIÊNCIAS BIOLÓGICAS - SANTO ANDRÉ - BACHARELADO - Presencial - N	Não	Sim
BFIS 2023 - BCT 2022	2024.1	FÍSICA - SANTO ANDRÉ - BACHARELADO - Presencial - M	Não	Não
BFIS 2023 - BCT 2022	2024.1	FÍSICA - SANTO ANDRÉ - BACHARELADO - Presencial - N	Não	Não
BFIS 2015 - A	2016.2	FÍSICA - SANTO ANDRÉ - BACHARELADO - Presencial - N	Não	Sim
BFIS 2009 - A	2010.2	FÍSICA - SANTO ANDRÉ - BACHARELADO - Presencial - N	Não	Sim

<< Voltar