Dados Gerais do Componente Curricular
| Tipo do Componente Curricular: |
DISCIPLINA |
| Tipo de Disciplina: |
REGULAR |
| Forma de Participação: |
DISCIPLINA REGULAR |
| Unidade Responsável: |
PÓS-GRADUAÇÃO EM NANOCIÊNCIAS E MATERIAIS AVANÇADOS (11.01.06.44) |
| Código: |
NMA-406E |
| Nome: |
TÓPICOS ESPECIAIS III - FUNDAMENTOS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE TRANSMISSÃO |
| Carga Horária Teórica: |
48 h. |
| Carga Horária Prática: |
0 h. |
| Carga Horária Estudo Individual: |
96 h. |
| Carga Horária Dedicada do Docente: |
0 h. |
| Carga Horária Total: |
144 h. |
| Pré-Requisitos: |
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| Co-Requisitos: |
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| Equivalências: |
( CEM-301F )
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| Excluir da Avaliação Institucional: |
Não |
| Matriculável On-Line: |
Sim |
| Horário Flexível da Turma: |
Não |
| Horário Flexível do Docente: |
Sim |
| Obrigatoriedade de Nota Final: |
Sim |
| Pode Criar Turma Sem Solicitação: |
Não |
| Necessita de Orientador: |
Não |
| Exige Horário: |
Sim |
| Permite CH Compartilhada: |
Não |
| Permite Múltiplas Aprovações: |
Não |
| Quantidade de Avaliações: |
3 |
| Ementa/Descrição: |
Fundamentos de microscopia eletrônica: canhão de elétrons, Lentes magnéticas, demais componentes da coluna do microscópio eletrônico de transmissão, interação elétron-matéria. Microscópio eletrônico de transmissão: Sistema óptico-eletrônico, Formação de imagens no MET (tipos de imagem e configurações do microscópio), Cristalografia, Alta resolução em MET (HRTEM), Função transferência de contraste (CTF), Modo Difração e Difração dinâmica, Digitalização da imagem Detector CCD e CMOS, Microanálise por feixe convergente (CBD) em MET, Nano-EDS (NEDS) e
nano-difração (NBD), contraste em MET: Contraste por difração. Contraste por absorção e contraste de fase. Modos de imagem em MET: Imagem em campo claro e campo escuro. Defeitos cristalinos e estudos de caso. Microscopia de transmissão – varredura (STEM): módulo de varredura e detectores, formação de imagem. Microanálise por raios-X: Espectroscopia por dispersão de energia (EDS) e por espectroscopia por perda de energia de elétrons (EELS). Estudos de caso. Aulas demonstrativas.
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| Referências: |
[1] David B. Williams, C. Barry Carter. Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (4 Vol.). Springer, 2009. [2] David B. Williams, C. Barry Carter. Transmission Electron Microscopy: Diffraction, Imaging, and Spectrometry.Springer, 2016. [3] Jian Min Zuo, John C.H. Spence. Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience. Springer, 2017. |
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