SIGAA - Sistema Integrado de Gestão de Atividades Acadêmicas

Resumo do Componente Curricular

Dados Gerais do Componente Curricular
Tipo do Componente Curricular:	DISCIPLINA
Tipo de Disciplina:	REGULAR
Forma de Participação:	DISCIPLINA REGULAR
Unidade Responsável:	PÓS-GRADUAÇÃO EM NANOCIÊNCIAS E MATERIAIS AVANÇADOS (11.01.06.44)
Código:	NMA-406
Nome:	TÓPICOS ESPECIAIS III - CARACTERIZAÇÃO DE MATERIAIS
Carga Horária Teórica:	48 h.
Carga Horária Prática:	0 h.
Carga Horária Estudo Individual:	96 h.
Carga Horária Dedicada do Docente:	0 h.
Carga Horária Total:	144 h.
Pré-Requisitos:
Co-Requisitos:
Equivalências:
Excluir da Avaliação Institucional:	Não
Matriculável On-Line:	Sim
Horário Flexível da Turma:	Sim
Horário Flexível do Docente:	Sim
Obrigatoriedade de Nota Final:	Sim
Pode Criar Turma Sem Solicitação:	Não
Necessita de Orientador:	Não
Exige Horário:	Sim
Permite CH Compartilhada:	Não
Permite Múltiplas Aprovações:	Não
Quantidade de Avaliações:	3
Ementa/Descrição:	Ementa: Revisão de propriedades dos materiais. Técnicas de caracterização espectroscópica, Difração e espalhamento de raios X. Microscopia eletrônica e de varredura de sonda. Técnicas de caracterização mecânica, elétrica, térmica e reológica dos materiais.
Referências:	BRANDON, D.G.; KAPLAN, W.D.; Microstructural characterization of materials. Chichester: John Wiley (1999). • KAUFMANN, E.N.; Characterization of Materials. Hoboken, NJ: John Wiley& sons (2003) Vol. 1 e 2. • WILLIAMS, D.B.; CARTER, C.B.; Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (4 volumes). 1a edição, Springer, 2004. • CULLITY, B. D.; STOCK, S.R.; Elements of X-Ray Diffraction, 3a edicao, Pearson Education Internaional, 2001. • GOLDSTEIN, J.; Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis. 3rd Edition. Springer; 2003. • MEYERS, M.A.; CHAWLA, K.K.; Mechanical behavior of materials, Editora Cambridge University Press; 2nd Edition, 2009. BARNES, H.A.; HUTTON, J.F.; WALTERS, K.F.R.S.; An Introduction to Rheology, Ed. Elsevier, Amsterdan, 1989.

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